應(yīng)力篩選試驗箱 技術(shù)規(guī)格：

環(huán)境應(yīng)力篩選中凝露現(xiàn)象的產(chǎn)生

在武器裝備、軍民產(chǎn)品、元器件、板級與單元級模塊的環(huán)境應(yīng)力篩選中，溫度快速上升時很容易導(dǎo)致產(chǎn)品上出現(xiàn)凝露等物理現(xiàn)象，并因此產(chǎn)生：吸附現(xiàn)象、吸收現(xiàn)象、擴(kuò)散現(xiàn)象、呼吸現(xiàn)象。凝露現(xiàn)象的產(chǎn)生與產(chǎn)品所用材料、腔體大小、升降溫速率、相對濕度、箱內(nèi)氣壓和空氣流速等因素都有關(guān)系。當(dāng)試驗箱中環(huán)境溫度升高時，由于熱慣性，產(chǎn)品表面的溫度低于環(huán)境溫度，當(dāng)濕熱的環(huán)境空氣遇到低于露點(diǎn)的產(chǎn)品表面時，空氣中的水汽就會凝結(jié)在表面形成露滴。如果產(chǎn)品密封，當(dāng)試驗箱中環(huán)境溫度降低時，產(chǎn)品外殼內(nèi)壁溫度比腔體內(nèi)空氣溫度降溫快，腔體內(nèi)濕熱空氣也會在產(chǎn)品外殼內(nèi)壁凝結(jié)成露滴。由于大多產(chǎn)品不是*密封的，凝露現(xiàn)象一般出現(xiàn)在升溫階段。

環(huán)境應(yīng)力篩選中凝露現(xiàn)象的危害
通常情況下，單純的凝露水不足以導(dǎo)致產(chǎn)品故障，但在環(huán)境應(yīng)力篩選試驗箱中，凝露水會與其他因素融合產(chǎn)生物理/化學(xué)作用，從而影響產(chǎn)品的安全質(zhì)量，如金屬氧化/電化學(xué)腐蝕、有機(jī)和無機(jī)表面覆蓋層的化學(xué)或電化學(xué)破壞、摩擦系數(shù)的改變導(dǎo)致粘結(jié)或粘附、因吸收效應(yīng)導(dǎo)致的材料膨脹、物理強(qiáng)度降低、電氣短路等，引起的典型失效故障。
溫度箱內(nèi)防凝露的方法分析
在環(huán)境應(yīng)力篩選中，導(dǎo)致被試品表面出現(xiàn)凝露的根本原因是被試品表面的溫度低于溫度箱內(nèi)空氣的露點(diǎn)。那么，要防止被試品表面出現(xiàn)凝露現(xiàn)象，有以下幾種可能的途徑：
（1）改善箱內(nèi)氣體的循環(huán)，使被試品在溫度箱中的溫度始終與箱內(nèi)氣體的溫度變化同步，且被試品的溫度與箱內(nèi)氣體的溫度之差很小，不足以讓被試品表面出現(xiàn)凝露現(xiàn)象。
（2）采取合適的措施，使箱內(nèi)氣體的露點(diǎn)上升速率滯后于被試品表面的溫度上升速率，使箱內(nèi)氣體的露點(diǎn)始終低于被試品表面的溫度，防止被試品表面出現(xiàn)凝露現(xiàn)象。
（3）控制箱內(nèi)氣體的濕度，使箱內(nèi)氣體的露點(diǎn)始終低于箱內(nèi)氣體的下限溫度，從而避免被試品表面出現(xiàn)凝露現(xiàn)象。

在以上的控制途徑中，途徑（1）的困難很大，因為被試品的材料、體積、質(zhì)量、結(jié)構(gòu)都千差萬別，不同被試品的熱慣性差別很大，在箱內(nèi)氣體溫變速率確定的條件下，要保證所有被試品的溫變速率與箱內(nèi)氣體的溫變速率相同，且被試品與箱內(nèi)氣體的溫度差很小，這在工程上很難實現(xiàn)。而采取途徑（2）和途徑（3）具有一定的可行性，當(dāng)我們設(shè)法降低箱內(nèi)氣體的濕度時，可以有效地降低箱內(nèi)氣體的露點(diǎn)，以保證被試品的溫度高于箱內(nèi)氣體的露點(diǎn)，防止被試品表面出現(xiàn)凝露現(xiàn)象。

經(jīng)過對環(huán)境應(yīng)力篩選實驗的長期觀察，我們發(fā)現(xiàn)影響溫度箱內(nèi)氣體露點(diǎn)變化的因素主要有以下兩點(diǎn)：
（1）環(huán)境濕度：當(dāng)環(huán)境濕度較大時，箱內(nèi)容易出現(xiàn)凝露現(xiàn)象。
（2）箱體的密封性：箱體的密封性越好，環(huán)境濕度對箱內(nèi)氣體的影響越小。

環(huán)境濕度是不可控因素，由于工作的需要或工程的原因，箱體很難做到的密封。一般的溫度箱內(nèi)外不可避免有氣體交換，這是一般的溫度箱防凝露的困難所在。為了克服環(huán)境濕度通過箱體縫隙對箱內(nèi)氣體露點(diǎn)的影響，本文認(rèn)為，以一定的流量向箱體內(nèi)補(bǔ)充干燥空氣，使箱內(nèi)氣壓大于箱外大氣壓，阻止箱外水蒸氣進(jìn)入箱內(nèi)，控制箱內(nèi)濕度，從而保證箱內(nèi)氣體的露點(diǎn)低于被試品表面溫度。